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透射偏光熔點儀 XPR-500C

簡要描述:XPR-500C型透射偏光熔點測定儀是地質(zhì)、礦產(chǎn)、冶金、石油化工、化 學(xué)纖維、半導(dǎo)體工業(yè)以及藥品檢驗等部門和相關(guān)高等院校的高分子等專業(yè)常用的專業(yè)實驗儀器。

  • 產(chǎn)品型號:XPR-500C
  • 產(chǎn)品產(chǎn)地:
  • 更新時間:2023-02-22
  • 訪  問  量:793

詳細(xì)介紹

一、儀器的主要用途和特點:
     XPR-500C型透射偏光熔點測定儀是地質(zhì)、礦產(chǎn)、冶金、石油化工、化 學(xué)纖維、半導(dǎo)體工業(yè)以及藥品檢驗等部門和相關(guān)高等院校的高分子等專業(yè)常用的專業(yè)實驗儀器。可供廣大用戶作單偏光觀察,正交偏光觀察,錐光觀察以及顯微攝影,來觀察物體在加熱狀態(tài)下的形變、色變及物體的三態(tài)轉(zhuǎn)化。
      本系統(tǒng)廣泛應(yīng)用于高分子材料、聚合物材料等化工領(lǐng)域,適用于研究物體的結(jié)晶相態(tài)分析、共混相態(tài)分布、粒子分散性及尺寸測量、結(jié)晶動力學(xué)的過程記錄分析、液晶分析、織態(tài)結(jié)構(gòu)分析、熔解狀態(tài)記錄觀察分析等總多研究方向。 

、儀器的主要技術(shù)參數(shù)

1.顯微鏡技術(shù)參數(shù):

 稱

參數(shù)規(guī)格

總放大倍數(shù):

 40X---630X

無應(yīng)力消色差物鏡

4X/0.1

10X/0.25

25X/0.40

40X/0.65

63X/0.85

目鏡

 

WF10X/18mm

10X網(wǎng)格目鏡     10X分劃目鏡   10X刻度目鏡

試片

石膏1λ試片      云母1/4λ試片    石英楔子試片

測微尺

0.01mm

濾色片

藍(lán)色 

聚光鏡

N.A.1.25帶可變光欄搖擺式聚光鏡

集光鏡

高亮度固定式照明

載物臺

直徑160mm,360°高精度等分刻度圓型旋轉(zhuǎn)載物臺,游標(biāo)格值6’,中心可調(diào),帶鎖緊裝置   移動尺:移動范圍30mm×40mm

鏡筒

45度平拉式三目觀察(52mm-75mm)

光源

鹵素?zé)簦?/font>6V/20W.AC 85V-230V)亮度可調(diào)

電腦攝像系統(tǒng)

CK-300數(shù)字?jǐn)z像系統(tǒng),分辨率:2040X1528, 芯片尺寸:1/2", USB2.0連接,  圖像質(zhì)量好 ,色彩還原性好 ,圖像穩(wěn)定,有多種圖像處理方式(詳細(xì)參數(shù)見CK-300攝像機(jī)介紹)

2. 偏光熱臺的用途:

    CK-400型偏光熱臺是專為材料學(xué)、生物化學(xué)、冶金學(xué)、有機(jī)化學(xué)、高分子及納米材料學(xué)而研制。與光學(xué)或電子顯微鏡配合使用,在微觀上觀察其溶化、升華、結(jié)晶過程中的狀態(tài)和各種變化。

    加熱臺由精密溫度控制儀和載物恒溫工作臺二部分組成,二者由一5芯線纜插口連接,載物恒溫工作臺置于光學(xué)或電子顯微鏡載物臺上。特別適用配合偏光顯微鏡構(gòu)成偏光熔點測量系統(tǒng)。

三、熔點儀技術(shù)參數(shù):

 1)輸入電源: 交流170~264V  50/60HZ   2)熱臺加熱工作電源:直流  24V  5A

 3)功耗:260W               4)溫度范圍:室溫——420℃

 5)熱臺外體最高溫度:熱體400℃;室溫25℃時≤70℃    6)工作方式:連續(xù)

 7)熱體最大載物重量:200克    8)精度:測量精度:全范圍≤±0.5%

 9)升溫速度:室溫——100℃ ≤80秒   室溫——200℃ ≤300秒

 10)系統(tǒng)波動度:±1℃             

 11)升溫速度達(dá)400℃時間:  10min  

 12)可設(shè)置升溫速度范圍:0.1——0.5秒/℃  

  13)即刻恒溫響應(yīng)時間: ≤0.1秒

 14)加熱板圓盤直徑99mm;厚度12mm 15)有效加熱范圍41mm;通光孔直徑3.8mm

 

四、系統(tǒng)組成:     

  1、偏光顯微鏡XPR-500       2、攝像機(jī)接口   

  3、彩色數(shù)字?jǐn)z像機(jī)CK-300      4、偏光熱臺CK-400

 

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